VDE 0390-15:2012
VDE 0390-15:2012 Superconductivity - Part 15: Electronic Characteristic Measurements - Intrinsic Surface Impedance Of Superconductor Films At Microwave Frequencies (Iec 61788-15:2011)
Table of Contents
Einleitung1Anwendungsbereich
2NormativeVerweisungen
3BegriffeundDefinitionen
4Anforderungen
5Messapparaturen
5.1Messausrüstung
5.2MessapparaturfürR[S]
5.3MessapparaturfürX[S]
5.4DielektrischeZylinder
6Messablauf
6.1Probenvorbereitung
6.2Aufbau
6.3MessungdesReferenzniveaus
6.4MessungdesintrinsischenR[S]vonSauerstoff-freiem
hochreinemKupfer
6.5BestimmungdeseffektivenR[S]vonSupraleiterfilmen
unddestandeltaderdielektrischenStandardzylinder
6.6BestimmungderEindringtiefe
6.7BestimmungdesintrinsischenZ[S]
7MessunsicherheitdesPrüfverfahrens
7.1MessungderLeerlaufgüte
7.2MessungdesVerlustfaktors
7.3Temperatur
7.4ProbenundTrägerstrukturfürdenHalter
8Prüfbericht
8.1Probenidentifizierung
8.2BerichtzudenintrinsischenZ[S]-Werten
8.3BerichtüberdiePrüfbedingungen
AnhangA(informativ)ZusätzlicheInformationenzuden
Abschnitt1bis8
A.1Anwendungsbereich
A.2Anforderungen
A.3TheorieundMessverfahrenfürdieintrinsische
Oberflächenimpedanz
A.3.1TheoretischeBeziehungzwischendemintrinsischen
Z[S]unddemeffektivenZ[S]
A.3.2BerechnungderGeometriefaktoren
A.3.3VerfahrenzurBestimmungdesintrinsischenZ[S])
A.4AbmessungendesStandardsaphirzylinders
A.5AbmessungendesResonatorsvomgeschlossenenTyp
A.6Prüfergebnisse
A.7MessunsicherheitderPrüfergebnisse
A.8Literaturhinweise
AnhangB(informativ)Messunsicherheitsbetrachtungen
B.1Überblick
B.2Definitionen
B.3BetrachtungdesKonzeptsderMessunsicherheit
B.4BeispielfüreineBestimmungvonMessunsicherheiten
fürTC90-Normen
B.5Literaturangaben
Literaturverzeichnis
Bilder
Tabellen